愛德萬測試AI應用解決方案 加速提升生產良率

元件良率在半導體生產過程中是關鍵的效能指標，需要工程人員持續除錯和微調。愛德萬測試獨創ACS EASY解決方案運用AI技術，自動監測測試環境並進行AI推論（inference），攔檢並分析良率下降的原因，如此便能即時解決生產問題、縮短偵錯的時間，並大大減少分析測試資料的工作量。

ACS EASY善於處理大量資料，藉由比較新一批次與先前批次的測試結果，快速辨別出不正常類別（bin）的原因。這套解決方案提供圖形化的使用者介面（GUI），便於線上傳輸測試結果，省去製作個別報告的麻煩。此外，ACS EASY操作直覺簡便，操作者不需要熟悉AI、機器學習、資料分析或統計學也能輕鬆上手。

一家採用愛德萬測試產品的業界大廠，在使用過ACS EASY自動載入測試資料並分析要因的功能後指出，這項任務原本每天得耗費100個工程小時，自從採用新系統後，一舉省下約8成在釐清良率下降原因的時間，併成功偵測出先前遭忽略的多個良率問題和背後原因。

ACS EASY運用自我學習技術分類所有良率相關問題，以便未來監測和分析，能進一步擴大系統的存儲知識庫，有利後續推論應用創造更大價值。

愛德萬測試客戶服務本部執行副總張建華表示，業界一直很期待在引進AI和先進資料分析後，能幫助IC測試向前躍進一大步。現在這個時刻到來了，ACS EASY是一套低成本、安裝容易又操作簡便的系統，測試工程師不用成爲資料科學家也能快速掌握有用的資訊。