《科技》東京半導體展 愛德萬測試秀多元解決方案

日本東京國際半導體展（SEMICON Japan）今年首次採線上虛擬方式舉辦，於今（14）日起連4天登場。半導體測試設備商愛德萬測試（Advantest）以贊助商身份參與，展示10多種最新的多元測試解決方案及產品，致力在持續演進的半導體價值鏈中提升客戶價值。

愛德萬測試此次展示的最新產品，包括系統單晶片（SoC）測試系統，影像、數位、電源供應擴充模組，整合預燒（burn-in）和記憶格（memory-cell）測試功能的記憶體測試機，以及愛德萬測試雲端解決方案（Cloud Solutions）等。

愛德萬測試此次亦贊助「SMART行動力」及「SMART勞動力」議程，以及專爲學子開設的「未來學院」。執行董事津久井幸一將於「SMART行動力」議程中致詞，並邀請博世（Bosch）和MIRISE Technologies高層，探討自動駕駛和半導體科技演進。

而17日舉行的「SEMI企業解決方案」議程，歐洲愛德萬測試產品行銷主管Markus Knoch將以「百萬兆級運算時代下的測試作業」爲題發表演說，探討未來高效能運算元件測試可能面臨的挑戰，並介紹自動測試設備（ATE）如何協助提升從設計到量產的工作流程。