X射線以創紀錄精度洞察微芯片“內心”

財聯社8月9日電，瑞士保羅謝勒研究所、洛桑聯邦理工學院、蘇黎世聯邦理工大學和美國南加州大學科學家合作，首次使用X射線，以4納米超高精度觀測了先進計算機微芯片的“內心”，創造了新的世界紀錄。研究團隊製作的高分辨率三維圖像，有望推動信息技術和生命科學等領域取得顯著進展。相關論文發表於新一期《自然》雜誌。研究團隊指出，這項技術不限於洞察微芯片的“內心”，還能爲生命科學等領域的樣品內部精確成像，從而推動相關領域的進一步發展。 (科技日報)