蘇州華興源創取得外觀檢測機構及測試設備專利，提高待檢芯片的外觀檢測效率

金融界2024年12月7日消息，國家知識產權局信息顯示，蘇州華興源創科技股份有限公司取得一項名爲“外觀檢測機構及測試設備”的專利，授權公告號CN 222105325 U，申請日期爲2023年12月。

專利摘要顯示，本申請涉及一種外觀檢測機構及測試設備，外觀檢測機構包括機臺、第一相機、多個第二相機及搬運組件；其中：第一相機設置於機臺，用於獲取待檢芯片的頂面外觀信息；多個第二相機間隔設置於機臺，第二相機用於獲取待檢芯片的底面與環面外觀信息；搬運組件設置於機臺，搬運組件設置有多個料盤，料盤用於待檢芯片的承載，待檢芯片在搬運組件上能夠沿X向與Y向滑動，以在第一相機與第二相機之間運動。本申請提供的外觀檢測機構，通過第一相機與第二相機檢測待檢芯片的外觀缺陷，且通過搬運組件將多個待檢芯片分別傳送至多個第二相機處同時進行底面與環面外觀檢測，可提高待檢芯片的外觀檢測效率。

本文源自：金融界

作者：情報員